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顾本源, 张安东, 张志诚, 于凤春. 利用光学倍频效应判定粉末样品的非中心对称性[J]. 物理, 1979, 8(2).
引用本文: 顾本源, 张安东, 张志诚, 于凤春. 利用光学倍频效应判定粉末样品的非中心对称性[J]. 物理, 1979, 8(2).

利用光学倍频效应判定粉末样品的非中心对称性

  • 摘要: 一、引言关于晶体的对称性的研究,通常是使用X射线衍射技术.在确定晶体的结构时,判定其对称中心存在与否,是重要的问题之一.但是由于弗里德尔(Friedel)定律的存在,使得通常的X射线衍射技术不可能判定反演中心是否存在.利用X射线反常散射强度统计试验法[1]或者使用帕特森(Patterson)分析法[2],能够消除由于弗里德尔定律所引起的空间群的不确定性.不过这些方法很烦琐,工作量又大,而且在?...

     

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