高级检索
许康. 集成电路(IC)可靠性物理问题[J]. 物理, 1985, 14(9).
引用本文: 许康. 集成电路(IC)可靠性物理问题[J]. 物理, 1985, 14(9).

集成电路(IC)可靠性物理问题

  • 摘要: IC即集成电路是未来信息世界的主要物质基础之一.它自1960年前后在Si平面技术基础上发明以来,先后经历了小、中、和大规模电路(即SSI,MSI和LSI)以及当前的超大、超高速集成电路(即VLSI,VHSIC)阶段.为了适应这种飞速的演变,其可靠性技术也相应由分立器件的统计失效发展成为以控制和预防、消除失效为主.后二者是以失效物理或可靠性物理学研究为基础.本文试图就IC可靠性物理学这一交叉学?...

     

/

返回文章
返回