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崔树范. 掠入射X射线衍射在表面、界面和薄膜材料结构研究中的应用[J]. 物理, 1993, 22(2).
引用本文: 崔树范. 掠入射X射线衍射在表面、界面和薄膜材料结构研究中的应用[J]. 物理, 1993, 22(2).
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掠入射X射线衍射在表面、界面和薄膜材料结构研究中的应用

    摘要
  • 摘要: 掠入射Ｘ射线衍射是８０年代以来发展的一种新的结构分析技术．其贯穿深度小，信噪比高，分析深度可以控制，因而适用于对表面或界面重构、多层膜和超晶格结构分析．简要介绍掠入射Ｘ射线衍射有关理论和方法及其应用．

     

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