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倪尔瑚. 凹形电介质测试腔新的刻度和测试方法[J]. 物理, 1993, 22(6).
引用本文: 倪尔瑚. 凹形电介质测试腔新的刻度和测试方法[J]. 物理, 1993, 22(6).

凹形电介质测试腔新的刻度和测试方法

  • 摘要: 一、凹形谐振腔及其电介质测试系统频率从0.1GHz至1GHz的电介质测量方法广泛采用凹形谐振腔构成的测试系统图1(a)].它也是国际电工委员会(IEC)和大部分国家作为固体电介质材料相对复介电常数标准测试方法.该凹形谐振腔是一段中心导体断开的、两端短路的同轴双凹结构.其上中心导体籍助于位于顶上的主测微器产生上下移动,形成可变间隙的平板电容C1,待测样品就放在这个间隙之中.下中心导体上方开有一....

     

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