物理
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物理  2011, Vol. 40 Issue (09): 0-0    DOI:
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纳米结构电学性质的静电力显微镜研究方法
张冬冬, 王 锐, 蒋烨平, 戚桂村, 王 琛, 裘晓辉
国家纳米科学中心 纳米表征研究室 北京 100190
Electrical characterization of nanostructured materials using electric force microscopy
国家纳米科学中心 纳米表征研究室 北京 100190

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