摘要: 原子力显微镜能够对表面进行原子分辨成像，同时也可测量探针和表面之间的微小力。物理学家可以通过在纳米尺度测量静电力，研究半导体中施主附近的电荷分布，有机光伏电池中的光压效应，或者分子中的结合键的位置。大阪大学团队发展了一种新技术，能够以前所未有的精确度测量探针与样品之间电荷产生的静电力。Sugimoto 和他的同事Eiichi Inami推出了一种新方法。在实验中，将AFM探针引入表面附近，加上电压，使得两个物体之间逐渐积累电荷。这样产生的静电力会影响探针在样品表面振荡的频率。