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朱星. 探索更高分辨本领的成像技术——兼评《扫描近场光学显微镜与纳米光学测量》[J]. 物理, 2017, 46(5): 334-335. DOI: 10.7693/wl20170511
引用本文: 朱星. 探索更高分辨本领的成像技术——兼评《扫描近场光学显微镜与纳米光学测量》[J]. 物理, 2017, 46(5): 334-335. DOI: 10.7693/wl20170511

探索更高分辨本领的成像技术——兼评《扫描近场光学显微镜与纳米光学测量》

  • 摘要: 视觉是人类感知外部客观世界的重要方式。我们常说“眼见为实”,说明人们通过图形图像识别而理解世界本质的重要性。从天文望远镜到电子显微镜,人们的视野从遥远的宇宙延伸到单个分子、原子。由于当代光学、电子学的快速发展,尤其是激光、超灵敏度的光电转换器件、计算机控制及图像处理的快速发展,人们曾经梦寐以求的极远或者极小物体的成像已经成为现实。在诸多的成像技术中,光学显微由于其放大倍数可以覆盖几倍至上千倍,可以直接被人眼接收并成像,易于操作,便于进行偏振、反射、吸收等研究的特点,已经成为常规显微的主要方法之一。然而,随着科学技术向微观世界发展,微电子、微光电器件、纳米材料研究的重点急需观察亚微米、纳米、亚纳米尺度的结构和性能,生命科学也提出对于细胞内部结构的亚单元、染色体甚至DNA观察的需求。这些需求推动了新一代亚微米至纳米成像技术的发展。

     

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