摘要: 氟化锂晶体具有较好的机械性能，容易加工，解理面具有高的Ｘ射线衍射强度和良好的色散本领，所以是电子探针微区ｘ射线谱仪和荧光Ｘ射线谱仪的主要分光晶体之一．分光晶体质量的好坏直接影响仪器的性能．因此对分光晶体的质量进行检测是十分必要的．氟化锂作为一种典型的晶体许多人进行过研究．很早Ｇｉｌｍａｎ和Ｊｏｈｓｔｏｎ［１］等曾用化学浸蚀法．ＹｏｓｈｉｍａｔｓｕＮｅｗｋｉｒｋ等［２，５］曾用Ｘ射线形貌术研究?...